Herzlich Willkommen bei der Röntgenstrukturanalyse 

Pulverdiffraktometrie (PXRD)

Messung bei Raumtemperatur in Reflexion (Pulver und feste Proben mit glatter Oberfläche) und Transmission (Kapillare und Folien), qualitative und quantitative Phasenanalyse, präzise Bestimmung von Gitterparametern (z.B. für die Berechnung der Röntgendichte usw.), Rietveld-Verfeinerung

Einkristalldiffraktometrie (SCXRD)

(Molekül)-Strukturbestimmung von Einkristallen (bei Bedarf auch mit intermolekularen Wechselwirkungen/Packungsanalyse, Lösung von Zwillingsproblemen), Probenpräparation bei tiefer Temperatur, in-situ Kristallisation von Verbindungen mit Schmelzpunkten bis 170 K (mit computergesteuertem IR-Laser), Beratung bei Problemen mit der Kristallzucht