Je nach Anforderung an Auflösung, Detektionsbereich, Analysetiefe etc. bietet sich eine individuelle Kombination der jeweils am besten geeigneten Methoden an. Wir beraten Sie gern.

Größe, Morphologie & Topographie

• Analytische Ultra-/Scheibenzentrifugation (AUC / ADC)
• Lichtmikroskopie (LM)
• Profilometrie
• Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
• Rasterkraftmikroskopie (AFM)
• Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

Kristallstruktur & Defekte

• Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
• Raman-Spektroskopie /-Mikroskopie

Chemische Struktur & Zusammensetzung

• Analytische Ultra-/Scheibenzentrifugation (AUC / ADC)
• Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
• Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS)
• Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)
• Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS)
• Raman-Spektroskopie
• Raster-Augerelektronenmikroskopie (SAM)
• Thermogravimetrische Analyse (TGA)

Elektronische Struktur

• Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS)
• Ultraviolett-Photoelektronen-Spektroskopie (UPS)
• Rastersondenmikroskopie (SPM)

Physikalische & Chemische Eigenschaften

• Rastersondenmikroskopie (SPM)