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Course Type (SWS)
Lecture: 0 │ Exercise: 0 │ Lab: 2 │ Seminar: 0
Exam Number:
Exam Code:
Type of Lecture:

Groups of three students perform the experiments, supported and supervised by a tutor. Students have to prepare for the experiments before and have to evaluate the experiments after the lab.

Language: German
Cycle: WS
ECTS: 2
Exam Type
Oral admission test at the beginning of the experimental exercises and concluding discussion after the experiments have been finished. Evaluation of the test results is to be presented at the next scheduled experiment.
assigned Study Courses
assigned People
assigned Modules
Information
Beschreibung:

Das Praktikum setzt sich aus den Teilgebieten Elektronik und Hochfrequenztechnik zusammen.
Die Versuche werden von einer ausführlichen Beschreibung begleitet, die die notwendigen Grundlagen wiederholt, Verständnisfragen stellt und Aufgaben stellt, die als Vorbereitung zuhause gelöst werden müssen.

Das Teilgebiet Elektronik wird vom Fachgebiet Halbleitertechnologie angeboten, ergänzt die Veranstaltung "Elektronische Bauelemente" und umfasst 3 Versuche. Es werden die Kapazitäts-Spannungscharakteristik der Schottky-Diode gemessen und ausgewertet, das Schaltverhalten von Bipolartransistoren anschaulich untersucht sowie das Gleichstromverhalten von Feldeffekttransistoren mittels einfacher Modelle untersucht.
- Das Teilgebiet Hochfrequenztechnik wird vom Fachgebiet Hochfrequenztechnik angeboten und besteht aus zwölf Versuchen, die wesentliche Ergebnisse der Lehrveranstaltung Hochfrequenztechnik (Modul b-nrt) demonstrieren und einüben.

Lernziele:

Die Studierenden sind in der Lage Bauelemente und einfache Schaltungen der Elektronik und Hochfrequenztechnik messtechnisch zu erfassen und theoretisches Wissen über Grundlagen und Verfahren der Elektronik und Hochfrequenztechnik auf praktische Funktionen anzuwenden.

Literatur:

Versuchsbeschreibungen: http://www.uni-duisburg.de/FB9/HFT/lehre/mrft_dwn.shtml bzw. http://www.hlt.uni-duisburg-essen.de/

Vorleistung:

 

Infolink:
Bemerkung:
Description:

The lab combines topics of RF-and Microwave Engineering with topics from Solid State Electronics for RF- and Microwave applications. The lab experiments are supported by extensive material on the theoretical fundamentals and by questions and tasks to be prepared by the students before the lab.
The part on Electronics is organized by Fachgebiet Halbleietertechnologie and incorporates experiments on Schottky diode capacitance, switching behaviour of bipolar transistors and the dc current-voltage characteristic of field effect transistors.
The part on RF technology is organized by Fachgebiet Hochfrequenztechnik and provides 12 experiments which cover the main theoretical concepts taught in the MRFT course.

Learning Targets:

The students are able to perform measurements of properties of RF- components and circuits and apply their theoretical understanding of electronics and RF-engineering to practical tasks and problems.

Literature:

Versuchsbeschreibungen: http://www.uni-duisburg.de/FB9/HFT/lehre/mrft_dwn.shtml bzw. http://www.hlt.uni-duisburg-essen.de/

Pre-Qualifications:
Info Link:
Notice: