Dissertationen 1990-1980
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1990-1980 |
- Dr.-Ing. Matthias Steck
Thema: "Quantitative Bestimmung magnetischer und elektrischer Mikrofelder mit Hilfe der Elektronenstrahl-Tomographie"
(Tag der mündlichen Prüfung: 07.02.1990)
- Dr.-Ing. Wilhelm Reiners
Thema: "Kapazitiver Potentialkontrast - Theoretische Deutung und technische Nutzung beim Elektronenstrahl-Test passivierter, höchstintegrierter Bausteine"
(Tag der mündlichen Prüfung: 05.01.1989)
- Dr.-Ing. Klaus-Dieter Herrmann
Thema: "Verbesserung der Testbarkeit höchstintegrierter Schaltkreise durch einen Elektronenstrahlprüffreundlichen Schaltungsentwurf"
(Tag der mündlichen Prüfung: 21.04.1989)
- Dr.-Ing. Siegfried Görlich
Thema: "Elektronenstrahltesten passivierter integrierter MOS-Bausteine"
(Tag der mündlichen Prüfung: 31.01.1986)
- Dr. rer. nat. Georg Koschek
Thema: "Ein Beitrag zum Verständnis des PTC-Effekts in BaTiO3-Keramiken aufgrund ortsauflösender Kathodolumineszensuntersuchungen"
(Tag der mündlichen Prüfung: 05.12.1986)
- Dr.-Ing. Josef Elsbrock
Thema: "Quantitative Bestimmung statischer und dynamischer mikromagnetischer Streufelder im Rasterelektronenmikroskop"
(Tag der mündlichen Prüfung: 31.10.1986)
- Dr. rer. nat. Klaus Löhnert
Thema: "Untersuchungen zur Alterung grün emittierender GaP-Leuchtdioden unter Einsatz von Elektronenstrahl-Meßtechniken"
(Tag der mündlichen Prüfung: 17.12.1982)
- Dr.-Ing. Michael Hastenrath
Thema: "Bestimmung von Trägerlebensdauern mit höchster Zeitauflösung im Rasterelektronenmikroskop"
(Tag der mündlichen Prüfung: 11.03.1981)
- Dr.-Ing. Eberhard Menzel
Thema: "Elektronenstrahltestsystem für die Funktionskontrolle und Fehleranalyse höchstintegrierter Schaltkreise"
(Tag der mündlichen Prüfung: 06.10.1981)
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- Dr.-Ing. Hans-Peter Feuerbaum
Thema: "Funktionsprüfung von hochintegrierten MOS-Schaltungen mit der Elektronensonde"
(Tag der mündlichen Prüfung: 29.08.1980)