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ParameterWert
AutorSpence, J.C.H.
BuchtitelExperimental High-Resolution Electron Microscopy
VerlagOxford University Press
Jahr1988
ISBN0-19-505405-9
SignaturUFK1537(2)+1
StichwortSEM, TEM, Methods
KategorieElectron Microscopy
EigentumHAPP
StatusEntleihbar
Letzte Änderung0000-00-00 von IP
Zeitstempel0000-00-00 00:00:00

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