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Datensatz 173 wird angezeigt:
| Parameter | Wert |
|---|---|
| Autor | Banhart, F. |
| Buchtitel | In-situ Electron Microscopy at High Resolution |
| Verlag | World Scientific |
| Jahr | 2008 |
| ISBN | 981-279-733-5 |
| Signatur | UFK1985+1 |
| Stichwort | TEM, HR-TEM |
| Kategorie | Electron Microscopy |
| Eigentum | HAPP |
| Status | Entleihbar |
| Letzte Änderung | 0000-00-00 von IP |
| Zeitstempel | 0000-00-00 00:00:00 |
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