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| Parameter | Wert |
|---|---|
| Autor | Erni, R. |
| Buchtitel | Aberration-corrected Imaging in TEM |
| Verlag | Imperial College Press |
| Jahr | 2010 |
| ISBN | 1-84816-536-6 |
| Signatur | UFK1977+1 |
| Stichwort | TEM, microscopy |
| Kategorie | Electron Microscopy |
| Eigentum | HAPP |
| Status | Entleihbar |
| Letzte Änderung | 0000-00-00 von IP |
| Zeitstempel | 0000-00-00 00:00:00 |
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