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ParameterWert
AutorFeldman, L.C.
BuchtitelFundamentals of Surface and Thin film Analysis
Verlag
Jahr
ISBN0-444-00989-2
Signatur
StichwortSurface, Films, Analysis Methods
KategorieStructure Analysis
EigentumAG-Eigentu
StatusEntleihbar
Letzte Änderung0000-00-00 von IP
Zeitstempel0000-00-00 00:00:00

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