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| Parameter | Wert |
|---|---|
| Autor | Kirkland, Eal J. |
| Buchtitel | Advanced computing in Electron Microscopy |
| Verlag | Springer |
| Jahr | 2010 |
| ISBN | 1-4419-6532-5 |
| Signatur | |
| Stichwort | Elektronenmikroskopie |
| Kategorie | Electron Microscopy |
| Eigentum | AG-Eigentu |
| Status | Entliehen |
| Ausleiher | unknown |
| Leihdatum | 0000-00-00 |
| Standort | |
| Letzte Änderung | 0000-00-00 von IP |
| Zeitstempel | 2026-06-19 10:02:52 |
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