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Datensatz 80 wird angezeigt:
| Parameter | Wert |
|---|---|
| Autor | Krakow, W., Smith, D.A., Hobbs, L.W. |
| Buchtitel | Electron Microscopy Of Materials |
| Verlag | North Holland, Elsevier Science Publishers |
| Jahr | 1984 |
| ISBN | 0-444-00897-7 |
| Signatur | UFK1650 |
| Stichwort | SEM, Semiconducturs, Interfaces |
| Kategorie | Electron Microscopy |
| Eigentum | HAPP |
| Status | Entleihbar |
| Letzte Änderung | 0000-00-00 von IP |
| Zeitstempel | 0000-00-00 00:00:00 |
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