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ParameterWert
AutorHirsch, Howie, Nicholson, Pashley, Whelan
BuchtitelElectron Microscopy Of Thin Crystals
VerlagButterworths
Jahr1965
ISBN
Signatur
StichwortSEM, Theory
KategorieElectron Microscopy
EigentumAG-Eigentu
StatusEntleihbar
Letzte Änderung0000-00-00 von IP
Zeitstempel0000-00-00 00:00:00

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