Ausstattung Chip-Prozesstechnologie

Elektronenstrahl-Lithografie

  • 100 keV, Auflösung sub-10 nm
  • automatisierte Registrierung mit 10 nm Genauigkeit
  • Software zur Berechnung der Elektronenstreuung und zur Proximity-Korrektur (Genisys BEAMER)
  • kalibrierte Belichtungsparameter auf InP, GaN, Silizium
  • flexible Substratgröße, 10 mm bis 8" (200 mm) Durchmesser

Rasterelektronenmikroskop

  • modernes Feldemissions-REM mit Software-Bedienung (Jeol i800)
  • Retardierung für geringe Landeenergie
  • EDX zur Elementanalyse
  • Flexible Wafergrößen bis 3" (75 mm) Durchmesser

Elektronenstrahl-Metallbedampfung

  • moderner E-Beam-Bedampfer (Leybold) 
  • Zweistufige Stickstoff-gespülte Glovebox zur Beladung
  • Beschichtung sauerstoff-sensitiver Oberflächen 
  • Flexible Materialquellen (Ti, Pt, Au, ...)
  • Flexible Wafergrößen bis 3" (75 mm) Durchmesser

Sputter-Metallbeschichtung

  • Moderne Multi-Target Sputtermaschine (Leybold)
  • Flexible Wafergrößen bis 3" (75 mm) Durchmesser

Gold-Galvanik

  • automatisiertes Galvanikbad (Gold-Beschichtung)
  • optimierter Elektrolyt (pH-Stabilisierung, Glanzbildner)
  • präzise Stromsteuerung mit Pulsbetrieb 
  • Elektrometer-Potenzialmessung
  • Flexible Wafergrößen bis 3" (75 mm)

Konfokalmikroskop