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Es wurde 1 Person gefunden.

Wiss.Ass.Dr.rer.nat. Boris Krenzer

Fakultät für Physik, Experimentalphysik

Anschrift
Lotharstraße 1
47057 Duisburg
Raum
MF 262
Telefon
+49 203 37 91523
Telefax
+49 203 37 91555
E-Mail
boris.krenzer@uni-due.de

Funktionen

  • Wissenschaftliche/r Mitarbeiter/in, Arbeitsgruppe Prof. Horn-von Hoegen

Aktuelle Veranstaltungen

Keine aktuellen Veranstaltungen.

Vergangene Veranstaltungen (max. 10)

Keine vergangenen Veranstaltungen.

Die folgenden Publikationen sind in der Online-Universitätsbibliographie der Universität Duisburg-Essen verzeichnet. Weitere Informationen finden Sie gegebenenfalls auch auf den persönlichen Webseiten der Person.

    Artikel in Zeitschriften

  • Frigge, Tim; Hafke, Bernd; Witte, Tobias; Krenzer, Boris; Horn-von Hoegen, Michael
    Non-equilibrium lattice dynamics of one-dimensional in chains on Si(111) upon ultrafast optical excitation
    In: Structural Dynamics / American Crystallographic Association (ACA) (Hrsg.), Jg. 5, 2018, Nr. 2, S. 025101
    DOI (Open Access)
  • Witte, Tobias; Frigge, Tim; Hafke, Bernd; Krenzer, Boris; Horn-von Hoegen, Michael
    Nanoscale interfacial heat transport of ultrathin epitaxial hetero films : Few monolayer Pb(111) on Si(111)
    In: Applied Physics Letters (APL), Jg. 110, 2017, Nr. 24, S. 243103
    DOI
  • Frigge, Tim; Hafke, Bernd; Witte, Tobias; Krenzer, Boris; Streubühr, Carla; Samad Syed, Abdul; Mikšić Trontl, Vesna; Avigo, Isabella; Zhou, Ping; Ligges, Manuel; von der Linde, Dietrich; Bovensiepen, Uwe; Horn-von Hoegen, Michael; Wippermann, Stefan; Lücke, Andreas; Sanna, Simone; Gerstmann, Uwe; Schmidt, Wolf Gerp
    Optically excited structural transition in atomic wires on surfaces at the quantum limit
    In: Nature, Jg. 544, 2017, Nr. 7649, S. 207 – 211
    DOI
  • Hafke, Bernd; Frigge, Tim; Witte, Tobias; Krenzer, Boris; Aulbach, Julian; Schäfer, Jörg; Claessen, Ralph; Erwin, Steve C.; Horn-von Hoegen, Michael
    Two-dimensional interaction of spin chains in the Si(553)-Au nanowire system
    In: Physical Review B, Jg. 94, 2016, Nr. 16, S. 161403
    DOI
  • Frigge, Tim; Hafke, Bernd; Tinnemann, Verena; Krenzer, Boris; Horn-von Hoegen, Michael
    Nanoscale heat transport from Ge hut, dome, and relaxed clusters on Si(001) measured by ultrafast electron diffraction
    In: Applied Physics Letters (APL), Jg. 106, 2015, Nr. 5, S. 053108-1 – 053108-4
    DOI
  • Frigge, Tim; Hafke, Bernd; Tinnemann, Verena; Witte, Tobias; Krenzer, Boris; Horn-von Hoegen, Michael
    Nanoscale thermal transport in self-organized epitaxial Ge nanostructures on Si(001)
    In: Semiconductor Science and Technology, Jg. 30, 2015, Nr. 10, S. 105027
    DOI
  • Klasing, Friedrich; Frigge, Tim; Hafke, Bernd; Krenzer, Boris; Wall, Simone; Hanisch-Blicharski, Anja; Horn-von Hoegen, Michael
    Hysteresis proves that the In/Si(111) (8x2) to (4x1) phase transition is first-order
    In: Physical Review B: Condensed matter and materials physics, Jg. 89, 2014, S. 121107
    DOI
  • Frigge, Tim; Wall, Simone; Krenzer, Boris; Wippermann, Stefan; Sanna, Simone; Klasing, Friedrich; Hanisch-Blicharski, Anja; Kammler, Martin; Schmidt, Wolf G.; Horn-von Hoegen, Michael
    Frigge et al. Reply : Comment on “Atomistic Picture of Charge Density Wave Formation at Surfaces”
    In: Physical Review Letters, Jg. 111, 2013, Nr. 14, S. 149601 – 149602
    DOI
  • Hanisch-Blicharski, Anja; Janzen, Andreas; Krenzer, Boris; Wallutis, Simone; Klasing, Friedrich; Kalus, Annika; Frigge, Tim; Kammler, Martin; Horn-von Hoegen, Michael
    Ultra-fast electron diffraction at surfaces: From nanoscale heat transport to driven phase transitions
    In: Ultramicroscopy, Jg. 127, 2013, S. 2 – 8
    DOI
  • Wall, Simone; Krenzer, Boris; Wippermann, Stefan; Sanna, Simone; Klasing, Friedrich; Hanisch-Blicharski, Anja; Kammler, Martin; Schmidt, Wolf G.; Horn-von Hoegen, Michael
    Atomistic picture of charge density wave formation at surfaces
    In: Physical Review Letters, Jg. 109, 2012, Nr. 18, 186101
    DOI
  • Hanisch-Blicharski, Anja; Krenzer, Boris; Wall, Simone; Kalus, Annika; Frigge, Tim; Horn-von Hoegen, Michael
    Heat transport through interfaces with and without misfit dislocation arrays
    In: Journal of Materials Research (JMR), Jg. 27, 2012, Nr. 21, S. 2718 – 2723
    DOI
  • Krenzer, Boris; Hanisch-Blicharski, Anja; Schneider, P.; Payer, Thomas; Möllenbeck, Simone; Osmani, Orkhan; Kammler, Martin; Meyer, Ralf; Horn-von Hoegen, Michael
    Phonon confinement effects in ultrathin epitaxial bismuth films on silicon studied by time-resolved electron diffraction
    In: Physical Review B: Condensed matter and materials physics, Jg. 80, 2009, Nr. 2, 024307
    DOI
  • Krenzer, Boris
    Zeitaufgelöste Elektronenbeugung : ein Film über ultraschnelle, atomare Prozesse
    In: Essener Unikate: Berichte aus Forschung und Lehre, 2008, Nr. 32: Naturwissenschaften - Physik: Energieumwandlungen an Oberflächen, S. 56 – 69
    DOI, Online Volltext (Open Access)
  • Jnawali, Giriraj; Hattab, Hichem; Bobisch, Christian; Bernhart, A.; Zubkov, E.; Meyer zu Heringdorf, Frank; Möller, Rolf; Krenzer, Boris; Horn-von Hoegen, Michael
    Nanopattern Formation by Periodic Array of Interfacial Misfit Dislocations in Bi(111)/Si(001) Heteroepitaxy
    In: MRS (Materials Research Society) Online Proceedings Library Archive, Jg. 1059, 2007
    DOI
  • Janzen, A.; Krenzer, Boris; Zhou, Ping; von der Linde, Dietrich; Horn-von Hoegen, Michael
    Ultrafast electron diffraction at surfaces after laser excitation
    23th European Conference on Surface Science (ECOSS-23) ; 4–9 September 2005, Berlin, Germany,
    In: Surface Science, Jg. 600, 2006, Nr. 18, S. 4094 – 4098
    DOI

    • Beiträge in Sammelwerken und Tagungsbänden

  • Möllenbeck, Simone; Hanisch-Blicharski, Anja; Schneider, Paul; Ligges, Manuel; Zhou, Ping; Kammler, Martin; Krenzer, Boris; Horn-von Hoegen, Michael
    Ultra-fast time-resolved electron diffraction of strongly driven phase transitions on silicon surfaces
    In: Materials Research Society Symposium Proceedings / Ultrafast processes in materials science, November 30 - December 4, 2009, Boston, Massachusetts, USA. Red Hook, NY: MRS, 2010, S. 86 – 93
    DOI