• Dr.-Ing. Georg Brockt
  Thema: "Nano-Charakterisierung struktureller und optischer Eigenschaften von Gruppe-III-Nitrid-Heterostrukturen im Raster- Transmissionselektronenmikroskop (RTEM)"
  (Tag der mündlichen Prüfung: 11.04.2002)

• Dr.-Ing. Seong-Woo Bae
  Thema: "Entwicklung einer Rastersonden-Strom-Messtechnik für die kontaktlose Bestimmung von Strömen in mikroelektronischen Leiterbahnstrukturen basierend auf dem magneto-resistiven Effekt"
  (Tag der mündlichen Prüfung: 26.11.2002)

• Dr.-Ing. Ulf Behnke
  Thema: "Dynamische Spannungsmessungen an Submikrometerleitungen mittels der elektrischen Kraftmikroskopie"
  (Tag der mündlichen Prüfung: 29.11.2002)

• Dr.-Ing. Rainer Weber
  Thema: "Entwicklung einer magnetischen Rasterkraftmikroskopie-Messtechnik zur kontaktlosen Bestimmung von Gleich- und Wechselströmen in integrierten mikroelektronischen Schaltungen"
  (Tag der mündlichen Prüfung: 10.12.2002)

• Dr. rer. nat. Jochen Seufert
  Thema: "Kontrolle und Manipulation exzitonischer Zustände in selbstorganisierten II-VI- Halbleiter Quantenpunkten"
  Universität Würzburg
  (Tag der mündlichen Prüfung: 26.07.2002)

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