ICAN: Abbildung mittels SXI
Abbildungen mittels SXI
Die folgende Grafik zeigt die detektierten, röntgenstrahlinduzierten Sekundärelektronen (SXI) einer teilweise lasergesinterten TiO2 Nanopartikeloberfläche.
An 9 Stellen wurde mit einem Laser auf die Oberfläche geschossen, wobei die Leistung des Lasers variiert wurde. Die Veränderung der Laserleistung führt zu einem unterschiedlich starken sintern der TiO2 Partikel und führen so zu einem unterschiedlichen Farbkontrast.
Ansprechpartner:
Dr. Ulrich Hagemann (XPS, SAM, SIMS)
NETZ
Carl-Benz-Str. 199
47047 Duisburg
Raum U1.15
Tel.: 0203 379-8035
E-Mail: ulrich.hagemann@uni-due.de
Größe, Morphologie & Topographie:
Kristallstruktur & Defekte:
Chemische Struktur & Zusammensetzung:
Elektronische Struktur:
Physikalische & Chemische Eigenschaften:
- SPM
