Analytik

GEGENSTAND UNSERER FORSCHUNG
Struktur-, Oberflächen- und Funktionsanalytik für Nanomaterialien von der Mikro- bis zur Atomskala.

ZIEL
Wir stellen für jede Fragestellung die passende Kombination aus Mikroskopie, Spektroskopie und beugungsbasierten Verfahren bereit, unterstützen bei Planung und Auswertung und verankern hochauflösende Analytik entlang der NETZ-Prozessketten.

HIGHLIGHTS

  • Mikroskopiezentrum mit komplementären Methoden der hochauflösenden Oberflächen- und Nanoanalytik.
  • Organisation als DFG-Gerätezentrum (ICAN) mit zentralem Zugang für interne und externe Nutzer:innen.
  • Charakterisierung struktureller, elektrischer, magnetischer und optischer Eigenschaften von Nanomaterialien.
  • Enge Kopplung zu Synthese-, Verarbeitungs- und Messtechnik-Laboren im NETZ-Forschungsbau.

ANALYTIK AUF DER NANOSKALA
ICAN verfügt über einen einzigartigen Geräte- und Methodenpool für die strukturelle und funktionale Analyse: hochauflösende Elektronen- und Rastersondenmikroskopie, oberflächenempfindliche Spektroskopie und beugungsbasierte Verfahren zur Aufklärung von Kristallstruktur, Morphologie und chemischer Zusammensetzung. Damit lassen sich sowohl statische Strukturen als auch dynamische Prozesse in Nanomaterialien untersuchen.
 

MIKROSKOPIEZENTRUM IM NETZ-FORSCHUNGSBAU
Zentraler Baustein ist das Mikroskopiezentrum im NETZ mit speziell ausgelegten Räumen für störungsarme Hochleistungsmikroskopie. Hier stehen u. a. ein aberrationskorrigiertes TEM, Mikro-XPS, TOF-SIMS, SAM und AFM/SPM zur Verfügung, ergänzt durch umfangreiche Probenpräparation.
 

SERVICE UND INTEGRATION
Das Angebot wird durch Analysetechniken in den Arbeitsgruppen der CENIDE-Mitglieder ergänzt. Zugang, Schulungen und Auftragsmessungen sind zentral organisiert, um eine effiziente Nutzung der Infrastruktur sicherzustellen und Analytik nahtlos in die NETZ-Prozessketten einzubinden.

Beteiligte Arbeitsgruppen

Prof. Stephan Barcikowski

Analytische Ultrazentrifugation

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Prof. Matthias Epple

Elektronenmikroskopie

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Prof. Michael Farle

TEM, Magnetometrie

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Prof. Axel Lorke

Elektronenmikroskopie, FIB

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Prof. Frank Meyer zu Heringdorf

Wissenschaftlicher Direktor ICAN

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Prof. Rolf Möller

Rastersondenmikroskopie

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Prof. Hermann Nienhaus

Photoelektronen- und Augerspektroskopie

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Prof. Roland Schmechel

Transport- und optoelektrische Eigenschaften

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Prof. Christof Schulz

In-situ-Lasermesstechnik

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Prof. Heiko Wende

Mößbauerspektroskopie, Röntgenabsorptionsspektroskopie

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Prof. Andreas Wucher

Sekundärionenmassenspektrometrie