JEOL 2200FS

 

Gerätetyp: JEOL 2200FS
Gerätebezeichnung: Cs-Aberrationskorrigiertes TEM/STEM
Emitter: ZrO/W(100) Schottky-Feldemitter
Polschuhkonfiguration: Ultrahohe Auflösung (UHR)

TEM Auflösung:

 

Punktauflösung: 0.19 nm (200 kV)
Linienauflösung: 0.10 nm (200 kV)

STEM Auflösung

 

Auflösung ADF: 0.10 nm (200 kV)
Auflösung BF: 0.20 nm (200 kV)

Aberrationskoeffizienten 200kV:

 

Öffnungsfehler 3. Ordnung: C3 ≤ 5 µm
3-zähliger Astigmatismus 2. Ordnung: A2 ≤ 100 nm
Energieauflösung (EELS): ≤ 0.8 eV (Emission = 30 µA)
≤ 1.2 eV (normale Emission)
Axiales Koma 2. Ordnung: B2 ≤ 100 nm

Installierte Detektoren:

 

Abbildende Detektoren: CCD-Kamera: 2k x 2k GATAN UltraScan®1000XP
Hellfeld(BF)- und Dunkelfeld(ADF)-STEM Detektoren
Analytische Detektoren: Energiefilter: In-column Omega-Filter (0.15 eV Energieauflösung)
EDX-Detektor: fensterloser 80 mm2 SDD X-MaxN 80 TLE Detektor Oxford mit 0.21 sr Raumwinkel

Piezoelement gesteuerte Probenbühne:

 

Kippwinkelbereich: ±25º
Probenhalter: Einfachkipphalter
Analytischer Doppelkipphalter (Be)
Probendrift: ≤ 1 nm/min
Weitere Besonderheiten: • Rotationsfreie Abbildung
• Bi-Prisma für Elektronen-Holographie inklusive Holographie Softwarepacket
• GATAN DigiScan für STEM-EELS
• FTSR-Software (HREM Research Inc.)


E-Mail: ican@uni-due.de

Ansprechpartner:

 

Dr. Markus Heidelmann (TEM)

NETZ
Carl-Benz-Str. 199
47047 Duisburg
Raum U1.15
Tel.: 0203 379-8037
E-Mail: markus.heidelmann@uni-due.de

Größe, Morphologie & Topographie:

Kristallstruktur & Defekte:

Chemische Struktur & Zusammensetzung:

Elektronische Struktur:

Physikalische & Chemische Eigenschaften:

  • SPM