Herzlich Willkommen bei der Röntgenstrukturanalyse

Pulverdiffraktometrie (PXRD)

Messung bei Raumtemperatur in Reflexion (Pulver und feste Proben) und Transmission (Kapillare und Folien), qualitative (EVA 4.2.2 Bruker) und quantitative Phasenanalyse (Rietveld-Verfeinerung mit TOPAS 5.0 Bruker) z.B. für die Bestimmung von Gitterparametern, Phasenanteilen, der Kristallitgröße und Eigenspannung.

In-situ Röntgenbeugung in Temperaturkammer von Anton Paar (HTK 16N mit Ta-Heizband, bis zu T=1600 °C im Hochvakuum), Röntgenklein- (SAXS) und -weitwinkelstreuung (WAXS) für Bestimmung der Partikelgröße und der atomaren Anordnung mittels Vakuumkammer ScatterX⁷⁸ (bis 78° 2Θ), Dünnschichtanwendung unter streifendem Einfall (GI-XRD), Messung der Textur (Pole figures) und Makrospannung (d=f(sin²(ψ)).

Einkristalldiffraktometrie (SCXRD)

(Molekül)-Strukturbestimmung von Einkristallen ab 0,01 mm Kantenlänge (verschiedene Wellenlängen: MoKα 0,71 Å Sealed Tube, CuKα 1,54 Å Micro Focus Source), bei Bedarf auch mit intermolekularen Wechselwirkungen/Packungsanalyse, Lösung von Zwillingsproblemen, Bestimmung der absoluten Konfiguration von chiralen Verbindungen. Probenpräparation bei tiefer Temperatur, Beratung bei Problemen mit der Kristallzucht.