Herzlich Willkommen bei der Röntgenstrukturanalyse 

Oktober 2011
Oktober 2011

Pulverdiffraktometrie (PXRD)

Messung bei Raumtemperatur in Reflexion (Pulver und feste Proben mit glatter Oberfläche) und Transmission (Kapillare und Folien), qualitative und quantitative Phasenanalyse mit der Rietveld-Verfeinerung: z.B. für die Bestimmung von Gitterparametern, der Phasenanteile, des amorphen Anteils, der Kristallitgröße, der bevorzugten Platzbesetzung

Messung in Reaktionskammer bis zu T=900 °C in aggressiven Atmosphären (z.B. NH3), SAXS-Anwendung für Nanomaterialien (Bestimmung der Partikelgröße, der Größenverteilung und der spezifischen Oberfläche), Dünnschichtanwendung unter streifendem Einfall (epitaktische Schichten), Messung der Eigenspannung und Textur

Einkristalldiffraktometrie (SCXRD)

(Molekül)-Strukturbestimmung von Einkristallen (bei Bedarf auch mit intermolekularen Wechselwirkungen/Packungsanalyse, Lösung von Zwillingsproblemen), Probenpräparation bei tiefer Temperatur, in-situ Kristallisation von Verbindungen mit Schmelzpunkten bis 170 K (mit computergesteuertem IR-Laser), Beratung bei Problemen mit der Kristallzucht