Spezifikation JEOL
| Gerätetyp: | JEOL 2200FS |
| Gerätebezeichnung: | Cs-Aberrationskorrigiertes TEM/STEM |
| Emitter: | ZrO/W(100) Schottky-Feldemitter |
| Polschuhkonfiguration: | Ultrahohe Auflösung (UHR) |
TEM Auflösung:
| Punktauflösung: | 0.19 nm (200 kV) |
| Linienauflösung: | 0.10 nm (200 kV) |
STEM Auflösung
| Auflösung ADF: | 0.10 nm (200 kV) |
| Auflösung BF: | 0.20 nm (200 kV) |
Aberrationskoeffizienten 200kV:
| Öffnungsfehler 3. Ordnung: | C3 ≤ 5 µm |
| 3-zähliger Astigmatismus 2. Ordnung: | A2 ≤ 100 nm |
| Energieauflösung (EELS): | ≤ 0.8 eV (Emission = 30 µA) ≤ 1.2 eV (normale Emission) |
| Axiales Koma 2. Ordnung: | B2 ≤ 100 nm |
Installierte Detektoren:
| Abbildende Detektoren: | CCD-Kamera: 2k x 2k GATAN UltraScan®1000XP Hellfeld(BF)- und Dunkelfeld(ADF)-STEM Detektoren |
| Analytische Detektoren: | Energiefilter: In-column Omega-Filter (0.15 eV Energieauflösung) EDX-Detektor: fensterloser 80 mm2 SDD X-MaxN 80 TLE Detektor Oxford mit 0.21 sr Raumwinkel |
Piezoelement gesteuerte Probenbühne:
| Kippwinkelbereich: | ±25º |
| Probenhalter: | Einfachkipphalter Analytischer Doppelkipphalter (Be) |
| Probendrift: | ≤ 1 nm/min |
| Weitere Besonderheiten: | • Rotationsfreie Abbildung • Bi-Prisma für Elektronen-Holographie inklusive Holographie Softwarepacket • GATAN DigiScan für STEM-EELS • FTSR-Software (HREM Research Inc.) |
Ansprechpartner:
Dr. Markus Heidelmann (TEM)
NETZ
Carl-Benz-Str. 199
47047 Duisburg
Raum U1.15
Tel.: 0203 379-8037
E-Mail: markus.heidelmann@uni-due.de
Größe, Morphologie & Topographie:
Kristallstruktur & Defekte:
Chemische Struktur & Zusammensetzung:
Elektronische Struktur:
Physikalische & Chemische Eigenschaften:
- SPM
