© ICAN 2019 | Abbildung 1

Was kann ein Transmissionelektronenmikroskop?

Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ist eine vielseitig einsetzbare Charakterisierungsmethode von unterschiedlichsten Materialien mit höchster örtlicher und energetischer Auflösung. Die Proben werden von hochenergetischen Elektronen durchstrahlt und müssen hierzu Elektronentransparent sein, d.h. Dicken von unter 100 nm aufweisen. Das JEOL JEM-2200FS erlaubt die Abbildung mit konventioneller TEM oder der Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM).

Die Öffnungsfehler der elektromagnetischen Linsen können im STEM-Modus mittels elektronenoptischem Korrektor der Firma CEOS korrigiert werden, um atomare Auflösung zu erreichen. Zusätzlich kann die Abbildung mit analytischen Methoden, wie der Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) oder der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) kombiniert werden.

In Abbildung 1 sind die wichtigsten Wechselwirkungsmechanismen des primären Elektronenstrahls mit der dünnen Probe dargestellt.

Abbildung 1: Schematische Darstellung der Wechselwirkungsmechanismen des primären Elektronenstrahls mit der dünnen Probe.

Weiterführende Informationen

Transmissionselektronenmikroskopie in ICAN

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Elektronenbeugung

Die Beugung von Elektronen an der amorphen oder meist kristallinen Probe ermöglicht die Bestimmung der Kristallstruktur und –symmetrie.

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Hochauflösende Abbildung

Unsere Geräte ermöglichen die hochauflösende (Raster)Transmissionselektronenmikroskopie (HR(S)TEM).

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Tomographie

Mit Hilfe des im ICAN vorhandenen Tomographinadelhalters ist eine Drehung der Probe um 360° möglich, was die Bildung bestimmter Artefakte (missing wedge) in der anschließenden Rekonstruktion verhindert.

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Analytische Elektronenmikroskopie

Wir bieten Ihnen die Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) und Elektronen Energieverlust Spektroskopie (EELS) an.

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Unser Gerät: JEOL 2200FS

Für umfangreiche Analysen steht Ihnen unser TEM 2200FS der Firma JEOL zur Verfügung.

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Unser Gerät: FEI Tecnai F20

Ebenfalls können Analysen am TEM Tecnai F20 der Firma FEI von uns durchgeführt werden.

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Ihr Ansprechpartner für das TEM:

ICAN - Interdisciplinary Center for Analytics on the Nanoscale
Anschrift
NETZ | Raum U1.15 | Carl-Benz-Str. 199
47057 Duisburg
Raum
LN U1.15

Funktionen

  • Wissenschaftliche/r Mitarbeiter/in, Center for Nanointegration Duisburg-Essen