© ICAN 2019 | Abbildung 1

Was kann ein Transmissionelektronenmikroskop?

Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ist eine vielseitig einsetzbare Charakterisierungsmethode von unterschiedlichsten Materialien mit höchster örtlicher und energetischer Auflösung. Die Proben werden von hochenergetischen Elektronen durchstrahlt und müssen hierzu Elektronentransparent sein, d.h. Dicken von unter 100 nm aufweisen. Das JEOL JEM-2200FS erlaubt die Abbildung mit konventioneller TEM oder der Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM).

Die Öffnungsfehler der elektromagnetischen Linsen können im STEM-Modus mittels elektronenoptischem Korrektor der Firma CEOS korrigiert werden, um atomare Auflösung zu erreichen. Zusätzlich kann die Abbildung mit analytischen Methoden, wie der Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) oder der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) kombiniert werden.

In Abbildung 1 sind die wichtigsten Wechselwirkungsmechanismen des primären Elektronenstrahls mit der dünnen Probe dargestellt.

Abbildung 1: Schematische Darstellung der Wechselwirkungsmechanismen des primären Elektronenstrahls mit der dünnen Probe.

Weiterführende Informationen

Transmissionselektronenmikroskopie in ICAN

© ICAN 2019

Elektronenbeugung

Die Beugung von Elektronen an der amorphen oder meist kristallinen Probe ermöglicht die Bestimmung der Kristallstruktur und –symmetrie.

Mehr Erfahren
© ICAN 2019

Hochauflösende Abbildung

Unsere Geräte ermöglichen die hochauflösende (Raster)Transmissionselektronenmikroskopie (HR(S)TEM).

Mehr Erfahren
© ICAN 2019

Tomographie

Mit Hilfe des im ICAN vorhandenen Tomographinadelhalters ist eine Drehung der Probe um 360° möglich, was die Bildung bestimmter Artefakte (missing wedge) in der anschließenden Rekonstruktion verhindert.

Mehr Erfahren
© ICAN 2019

Analytische Elektronenmikroskopie

Wir bieten Ihnen die Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX) und Elektronen Energieverlust Spektroskopie (EELS) an.

Mehr Erfahren
© ICAN 2019

Unser Gerät: JEOL 2200FS

Für umfangreiche Analysen steht Ihnen unser TEM 2200FS der Firma JEOL zur Verfügung.

Mehr Erfahren

Ihr Ansprechpartner für das TEM:

ICAN - Interdisciplinary Center for Analytics on the Nanoscale

Anschrift
NETZ | Raum U1.15 | Carl-Benz-Str. 199
47057 Duisburg
Raum
LN U1.15

Funktionen

  • Wissenschaftliche/r Mitarbeiter/in, Center for Nanointegration Duisburg-Essen