M. Sc. Patrick Häuser

M. Sc. Patrick Häuser

Anschrift
Lotharstr. 55 (LT)
47057 Duisburg
Raum
LT 105
Telefon
+49 203 379 3878
Telefax
+49 203 379 3400
E-Mail
patrick.haeuser@uni-due.de

Funktionen

  • Wissenschaftliche/r Mitarbeiter/in, Bauelemente der Höchstfrequenz-Elektronik

Die folgenden Publikationen sind in der Online-Universitätsbibliographie der Universität Duisburg-Essen verzeichnet. Weitere Informationen finden Sie gegebenenfalls auch auf den persönlichen Webseiten der Person.

    Artikel in Zeitschriften

  • Koch, Juliane; Häuser, Patrick; Kleinschmidt, Peter; Prost, Werner; Weimann, Nils; Hannappel, Thomas
    Tracking Charge Carrier Paths in Freestanding GaN/AlN Nanowires on Si(111)
    In: ACS Applied Materials & Interfaces Jg. 16 (2024) Nr. 39, S. 52780 - 52788
    Online Volltext: dx.doi.org/ (Open Access)
  • Meier, Johanna; Häuser, Patrick; Blumberg, Christian; Smola, Tim; Prost, Werner; Weimann, Nils; Bacher, Gerd
    Local optical analysis of InGaN/GaN nanorod LED structures grown on Si(111)
    In: Journal of Applied Physics Jg. 134 (2023) Nr. 4, 044303
    Online Volltext: dx.doi.org/
  • Häuser, Patrick; Blumberg, Christian; Liborius, Lisa; Prost, Werner; Weimann, Nils
    Polarity-controlled AlN/Si templates by in situ oxide desorption for variably arrayed MOVPE-GaN nanowires
    In: Journal of Crystal Growth Jg. 566-567 (2021) S. 126162
    Online Volltext: dx.doi.org/
  • Blumberg, Christian; Häuser, Patrick; Wefers, Fabian; Jansen, Dennis; Tegude, Franz-Josef; Weimann, Nils; Prost, Werner
    A systematic study of Ga- And N-polar GaN nanowire-shell growth by metal organic vapor phase epitaxy
    In: CrystEngComm Jg. 22 (2020) Nr. 33, S. 5522 - 5532
    Online Volltext: dx.doi.org/

    • Beiträge in Sammelwerken und Tagungsbänden

  • Blumberg, Christian; Häuser, Patrick; Wefers, Fabian; Meier, Johanna; Bacher, Gerd; Weimann, Nils; Prost, Werner
    Growth of site- And polarity-controlled GaN nanowires on Silicon for high-speed LEDs
    In: 8th GMM-Workshops on Micro-Nano-Integration / Virtual, Online; ; 15 - 17 September 2020 2020, S. 60 - 64