Konferenzbeiträge 2005

früher

2005

später
  • C. Hartmann, W. Mertin, G. Bacher
    "Circuit internal signal measurements with a needle sensor"
    16th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2005, 10. –14. Oktober 2005, Arcachon, Frankreich
  • W. Mertin, C. Hartmann, K.-D. Katzer, A. Lochthofen, G. Bacher
    "Nanoanalyse elektronischer und optoelektronischer Bauelemente"
    23. Diskussionsitzung “Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien” des ITG-Fachausschusses 8.5, Grainau, 03.-04. Mai 2005
  • K.-D. Katzer, W. Mertin, G. Bacher, V. Khorenko, Q. T. Do, F. J. Tegude, W. Prost
    "Deposition technique, topology, and electrical characterization"
    Project-Review Meeting, Madrid, Spanien, 01.02.2005


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