AFM Labor

Rasterkraftmikroskop Park Systems “XE-70”

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Spezifikation:

  • Rastersondenverfahren mit Cantilevern
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  • Kontakt- oder Nicht-Kontakt-Modus
  • Topographie- und Phasen-Bilder
  • Kraft-Abstands-Kurven und laterale Kräfte
  • XY- und Z-Scanner getrennt
  • Probengröße bis zu 100 x 100 mm
  • Gelagert auf aktiver Antivibrationsplattform Halcyonics „Micro 60“

Kontakt:
M. Farle
R. Meckenstock