AFM Labor
Rasterkraftmikroskop Park Systems “XE-70”
Spezifikation:
- Rastersondenverfahren mit Cantilevern
- Kontakt- oder Nicht-Kontakt-Modus
- Topographie- und Phasen-Bilder
- Kraft-Abstands-Kurven und laterale Kräfte
- XY- und Z-Scanner getrennt
- Probengröße bis zu 100 x 100 mm
- Gelagert auf aktiver Antivibrationsplattform Halcyonics „Micro 60“
Kontakt:
M. Farle
R. Meckenstock