ZEISS - Crossbeam 540

Raum 1.039 im 1. OG des MFZ Gebäudes

Unser High-end Kryo-REM mit Gemini Säule und Schottky Feldemitter ist auch mit einem fokussierten Ga+++-Strahl System sowie Platin- und Kohlenstoff Gasinjektionssystemen zur Bildverbesserung ausgestattet. Es stehen in-lens-, Kammer- und energieselektive Detektoren und eine 6 Achsen Probenbühne zu Verfügung, die mit 2 in der Kammer befindlichen CCD Kameras beobachtet werden kann.
Neben der konventionellen Rasterelektronenmikroskopie, die Oberflächen von Präparaten mit einer maximalen Auflösung von 0,7 nm bei 30KV erlaubt, können wir dank STEM Detektor auch transmissionselektronenmikroskopische Präparate untersuchen. Mithilfe des Kryo-REM Präparationssystems ist es möglich, auch Schock-gefrorene Proben wie z.B. Frischbiopsien ohne Fixierungsartefakte in der Kryo-Rasterelektronenmikroskopie zu betrachten.
Mit dem Gerät können FIB-SEM Untersuchungen durchgeführt werden. Dabei wird ein in der Säule mit Platin überzogenes Präparat mit einen aus einer Galliumionenquelle stammenden Ionenstrahl beschossen, wodurch planparallele Schnitte bis weit unter die Oberfläche entstehen, die dann digital abgerastert werden. Anschließend wird mit dem Ionenstrahl erneut die Oberfläche verdampft und dabei ein exakt parallel orientierter "Folgeschnitt" generiert, der erneut digital erfasst wird. Dies lässt sich "beliebig" oft wiederholen, wodurch man mehrere hundert bis tausende "Serienschnitte" einer Probe gewinnen kann, die Abstände von bis zu minimal 20 nm voneinander haben. Die Capella-Säule erlaubt dabei eine Punktauflösung von 3 nm. Aus den gewonnenen Bilddatenstapeln kann man dann größere Ultrastrukturen wie z.B. Mitochondrien als Ganzes rekonstruieren. Am REM steht die FIB-Steuerungs- und Bildaquisitionssoftware Zeiss Atlas 3D zur Verfügung, die 16 Bit Grauwertbilder mit bis zu 40.000 x 50.000 Pixel Auflösung macht. An unserer Workstation lassen sich später 3D Rekonstruktionen segmentierter Strukturen generieren und visualisieren.
Das REM ist zudem mit der ZEN SEM 2012 Software für korrelative Licht- und Elektronenmikroskopie (CLEM) ausgestattet, womit man mit Fluorochromen markierte Proben zunächst am Fluoreszenzlichtmikroskop digital fotografiert und anschließend exakt dieselbe Stelle mit der REM oder STEM Methode aufnimmt, um dann beide Bilder direkt übereinander zu projizieren.

Nach gründlicher Einweisung ist es bei länger dauernden Projekten möglich, auch selbst am Gerät zu arbeiten.

Bedienungsanleitung auf Deutsch